VAIOの埃試験

埃を吸い込んでも不具合を起こさない安全性を追求。 埃試験の目的は、埃の詰まりにくい構造を追求、確認することです。あらゆる環境で使われるモバイルPCにとって、パフォーマンスを低下させる大きな原因の一つが埃です。埃が挟まるとファンの吸気が弱まり、内部に熱がこもることで本来の働きを妨げてしまいます。そこで、埃を吸い込んでファンが不具合を発生することがないように、独自の試験機を使って開発段階から検討を施しています。試験で使う埃も専用につくったものです。その埃を人工的に浮遊させた空間にVAIOを放置して、取り出した後で安全に動作するかを確認。さらに、VAIO内部のどのような場所に埃が溜まりやすいかを調べ、そもそも埃を吸い込みにくい構造を追求しています。